APPIEサブミクロン領域試験用粒子

APPIEサブミクロン領域粒子径分布測定装置試験用粒子(略称サブミクロン試験用粒子)は、日本粉体工業技術協会規格SAP13-11で規定されている粒子径分布測定装置試験用粒子である。使用材料は、長期間の保存に対し物性の変化のない高純度の球形の溶融シリカであり、0.09μmから1.5μmまでの範囲で粒子径分布の異なる3種類の粒子を1セットとして販売している。1セットの粒子の種類、粒子径分布の概略値、内容量は以下のとおりである。

種 類 粒子径分布領域の概略値 内容量
FSTP 0.3-1.5 約0.3μmから約1.5μm 約4g
FSTP 0.2-0.7 約0.2μmから約0.7μm 約3g
FSTP 0.09-0.2 約0.09μmから約0.2μm 約2g

粒子径分布

サブミクロン試験用粒子の粒子径分布の測定は顕微鏡法で行うが、その方法と条件および測定結果の表示方法の詳細は日本粉体工業技術協会規格SAP13-11により規定されている。
● 粒子径分布測定結果

表1 サブミクロン試験用粒子の粒子径分布( 顕微鏡法  単位 μm )

アンダーサイズ(%) FSTP 0.3-1.5 FSTP 0.2-0.7 FSTP 0.09-0.2
体積基準 個数基準 体積基準 個数基準 体積基準 個数基準
10 0.288 0.104 0.173 0.082 0.090 0.052
20 0.393 0.132 0.216 0.105 0.106 0.065
30 0.491 0.157 0,256 0.121 0.119 0.075
40 0.595 0.182 0.297 0.138 0.131 0.085
50 0.724 0.208 0.345 0.156 0.143 0.094
60 0.854 0.238 0.398 0.175 0.156 0.104
70 0.994 0.275 0.469 0.198 0.171 0.115
80 1.203 0.334 0.576 0.235 0.192 0.129
90 1.478 0.444 0.738 0.291 0.228 0.154
計測粒子数 21640 個 22769 個 15620 個
計測除外粒子数 174 個 50 個 148 個

注:破損した粒子や明確に楕円体(異形粒子)と識別できる粒子は計測から除外されている。

諸物性

1)SiO2純度(溶融シリカ)

表2 SiO2純度

  種類 SiO2 
FSTP 0.3-1.5   99.77
FSTP 0.2-0.7    99.72
FSTP 0.09-0.2    99.51

*高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置による。

2)粒子密度

表3 粒子密度

 種類 粒子密度(kg/m3)
FSTP 0.3-1.5 2333.7
FSTP 0.2-0.7 2340.3
FSTP 0.09-0.2 2336.5

*気体置換法ピクノメータによる

3)アスペクト比・円形度(球形の度合い)

表4 アスペクト比・円形度

種類 測定粒子数 アスペクト比 円形度(平均値)
平均値 1~1.1%
FSTP 0.3-1.5  654 1.0336   95 0.9406
FSTP 0.2-0.7 637 1.0355   95 0.9310
FSTP 0.09-0.2   576 1.0501   92 0.9233

*電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)の影像を画像解析ソフトウェアにより粒子形状分析を行った。「1~1.1%」は「アスペクト比が1~1.1の間に入った割合(%)(個数基準)を示す。

5)屈折率

1.45(文献値)

電顕写真

 FSTP 0.3-1.5  FSTP 0.2-0.7   FSTP 0.09-0.2
   写真-1 電顕写真(FE-SEM)

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品 種 包装単位 会員価格(円) 非会員価格(円)
サブミクロン試験用粒子
(3種類のセット)
1ケース
※( 各々内容量が異なるバイアル3個入り )
54,000 70,200

※内容量:
FSTP 0.3-1.5  約4g
FSTP 0.2-0.7  約3g
FSTP 0.09-0.2  約2g

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