APPIEサブミクロン領域試験用粒子

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APPIEサブミクロン領域粒子径分布測定装置試験用粒子（略称サブミクロン試験用粒子）は、日本粉体工業技術協会規格SAP13-11で規定されている粒子径分布測定装置試験用粒子である。使用材料は、長期間の保存に対し物性の変化のない高純度の球形の溶融シリカであり、0.2μｍから1.5μｍまでの範囲で粒子径分布の異なる2種類の粒子がある。

粒子径分布

サブミクロン試験用粒子の粒子径分布の測定は顕微鏡法で行うが、その方法と条件および測定結果の表示方法の詳細は日本粉体工業技術協会規格SAP13-11により規定されている。

品　種	粒子径分布領域の概略値（μｍ）	内容量（ｇ）
FSTP 0.3-1.5	0.3から1.5	4
FSTP 0.2-0.7	0.2から0.7	3

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諸物性

１）SiO₂純度（溶融シリカ）

品　種	SiO₂（％）
FSTP 0.3-1.5	99.77
FSTP 0.2-0.7	99.72

＊高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置による。

２）粒子密度

品　種	粒子密度(kg/m³)
FSTP 0.3-1.5	2333.7
FSTP 0.2-0.7	2340.3

＊気体置換法ピクノメータによる

３）アスペクト比・円形度(球形の度合い)

品　種	測定粒子数	アスペクト比		円形度(平均値)
品　種	測定粒子数	平均値	1～1.1%	円形度(平均値)
FSTP 0.3-1.5	654	1.0336	95	0.9406
FSTP 0.2-0.7	637	1.0355	95	0.9310

＊電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)の影像を画像解析ソフトウェアにより粒子形状分析を行った。「1～1.1%」は「アスペクト比が1～1.1の間に入った割合(％)(個数基準)を示す。

４）屈折率

1.45(文献値)

電顕写真

価格

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品種	包装単位(g)	会員価格（円）	非会員価格（円）
サブミクロン試験用粒子 FSTP0.3-1.5	4	23,100	28,820
サブミクロン試験用粒子 FSTP0.2-0.7	3	23,100	28,820

価格改定日2023年1月1日