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15:00〜15:30　創価大学　理工学部　工学研究科　環境共生工学専攻　教授　松山 達 氏

・日本粉体工業技術協会が関与するISO/JISについて
・JIS Z 8801-2:2022 「試験用ふるい―第２部：金属製板ふるい」改正について
・JIS Z 8825:2022「粒子径解析－レーザ回折・散乱法」改正について

15:30〜15:45　（株）リガク　X線研究所要素技術研究部構造可視化グループ・グループマネージャー　伊藤 和輝 氏

・ISO 17867:2020「粒子径解析－小角X線散乱法」
・ISO 20804:2022「多孔質および微粒子系の比表面積計測－小角X線散乱法」
・ならびにJIS原案作成活動について

15:45〜16:00　リオン（株）　微粒子計測器事業部 開発部 開発課　主席技師　水上 敬 氏

・ISO 21501-2:2019「光散乱式液中粒子計数器」
・ISO 21501-3:2019「光遮へい式液中粒子計数器」
・ISO 21501-4:2018「光散乱式気中粒子計数器」
・ならびにJISとISOの関係について

16:00〜16:10　（国研）産業技術総合研究所　社会実装本部　上席イノベーションコーディネータ　綾 信博 氏

・JIS Z 8829:2021「粒子軌跡解析法」について

16:10〜16:30　同志社大学　名誉教授　森 康維 氏

・標準粒子に関連するJIS規格の改正・制定について
・ISO 14411-2:2020「粒子状標準物質の調製－第2部：多分散球状粒子」
・JIS Z 8901:2006「試験用粉体及び試験用粒子」
・JIS Z 8833:2011「粒子特性を評価するための粉体材料の縮分」