2019年3月26日

第2回計装測定分科会は、2019年2月1日（金）同志社大学東京オフィスにて、毎年1回行っている計装測定講演会（通算38回目）として実施いたしました。

今回のテーマは、【粒子特性評価の最前線】であり、粒子特性評価全般に着目し、国際標準化・国内標準化の最新動向や課題、光散乱現象を利用した各種液中微粒子評価法の違いや、代表的な評価法であるDLS法を用いた計測の実践的なテクニックなどについての基調講演2題と、企業講演として、主に計測器メーカから最近の取り組みやアプリケーションの紹介を7件行いました。講演テーマと講演者は以下の通りです。

基調講演1.「粒子特性評価に関する国際・国内標準化の動向と課題」
国立研究開発法人　産業技術総合研究所　遠藤　茂寿　様
基調講演2.「液中微粒子評価に関する国際・国内標準と計測の実践テクニック」
動的光散乱法DLSによる粒子特性の評価（JIS Z 8828 (ISO22412:2017)）
国立研究開発法人　産業技術総合研究所　高橋　かより　様

企業プレゼン
1.「ポータブル・オンラインを含めた粒子画像解析装置PITAのご紹介」
㈱セイシン企業　技術開発本部　カスタマーサポート　椎　一由　様
2.「動的光散乱法および電気泳動を用いたナノ粒子物性評価」
大塚電子㈱　白石　優太　様
3.「製造プロセスにおける粒子径のリアルタイムモニタ」
スペクトリス㈱マルバーンパナリティカル事業部　池田　英幸　様
4.「最新の粒子トラッキング解析法（PTA）の紹介とその応用について」
㈱堀場製作所　科学・半導体事業戦略室　楊　逸明　様
5.「画像解析式粒度分布測定ソフトウェアMac-View」
マウンテック㈱　梅森　健　様
6.「新提案、“粒子径分布”と“形状評価”のシンクロナイズ」
マイクロトラックベル㈱　佐藤　浩二　様
7.「各種密度計測について」
㈱島津製作所　鷲尾　一裕　様