2016年3月28日

平成28年1月27日、同志社大学東京オフィスにて、計装測定分科会を開催いたしました。本年度第1回分科会は、毎年1回行っている計装測定講演会（通算35回目）として実施しました。今回のテーマは、広く【最近の粉体物性測定に関する製品発表、講演会】とし、ファインバブルを含むナノ粒子計測技術、粉体の可視化計測技術、粉体単位操作と物性の関係などについて、それぞれ造詣の深い先生方に基調講演3題をお願いしました。さらに企業講演として、主に計測器メーカから最近の取り組みやアプリケーションを8件紹介頂きました。