計装測定分科会 報告

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2019年11月19日、同志社大学東京オフィスにて第1回分科会として、「画像解析法などの個別評価手法による粒子径計測の最新動向」をテーマとし、画像解析法を中心とする個別評価手法に着目し、各測定法の国際標準化動向や技術的背景と課題、ナノ粒子計測における原子間力顕微鏡の活用などについての基調講演2 題、企業講演として、ソフトウェアや計測器メーカから最近の取り組みやアプリケーション紹介を9 件実施しました。
講演テーマと講演者は以下の通りです。
【基調講演】
・①「カウントベースの粒子径計測で粒子を何個数えるか?」
創価大学 理工学部 教授  松山 達 氏
・②「ナノ粒子サイズ統計への原子間力顕微鏡の応用とその意味」 
産業技術総合研究所 主任研究員  重藤 知夫 氏

【企業講演】
・①「AI画像処理技術による粒子評価手法の紹介」
大日本印刷株式会社 研究開発センター 佐波 晶 氏 
・②「製品(アプリケーション)紹介」         
ヴァーダーサイエンティフィック㈱ …「カムサイザー」
スペクトリス㈱ …「モフォロギ、ナノサイト」
㈱セイシン企業…「PITA」
㈱島津製作所…「iSpect DIA-10」 
三洋貿易㈱…「SOPAT」
日本レーザ㈱…「QICPIC」
ジャスコインタナショナル㈱…「画像解析粒度分布計とアプリケーション紹介」
フリーマンテクノロジー…「粒子径、粒子形状と流動特性」

以上

カテゴリー: 活動報告, 計装測定分科会